Estadística II: inferencia Luis Ruiz Maya Pérez y Javier Martín Pliego

By:

Maya Pérez, Luis Ruiz

Contributor(s):

Martín Pliego, Javier

Material type: Text

TextEspaña, Madri Thomson 2006Edition: 2Description: 821 páginas ; 25cm ilContent type:

texto

Media type:

no mediado

Carrier type:

volumen

ISBN:

84-7288-196-2

Subject(s):

DDC classification:

519 M4675es

Online resources:

Portada

Contents:

1. Muestreo: estadístico y sus ditribuciones 2. Muestreo en poblaciones normales 3.Estadístico ordenados 4. Suficiencia e información 5. Estimación puntual: propiedades de los estimadores 6. Métodos de estimación 7. Estimación por intervalos 8. Contrastación de hipótesis 10. Contrastes paramétricos 11. Contrastes paramétrico II 12. Contraste no paramétricos I 13. Contrastes no parametricos 14. Control estadístico de la calidad 15. Inferencia bayesiana

Summary: Este manual se centra en todos los aspectos fundamentales de la Inferencia estadística, desarrollándose bajo el enfoque clásico y completándose con un capítulo introductorio al análisis estadístico bayesiano. Aunque todos los temas se tratan con gran detalle, se pone especial énfasis en el estudio de la contrastación de hipótesis, procedimiento objetivable para seleccionar alternativas, incluyendo las aplicaciones más habituales en las técnicas estadísticas, tanto en el caso paramétrico como en el no paramétrico.

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Item type	Current library	Collection	Call number	Copy number	Status	Date due	Barcode
Libros	Biblioteca La Matriz INGENIERIA ELECTROMECANICA / LA MATRIZ	Acervo general de Libros	519 M4675es (Browse shelf(Opens below))	Ej.1	Available		008975-15

Este manual se centra en todos los aspectos fundamentales de la Inferencia estadística, desarrollándose bajo el enfoque clásico y completándose con un capítulo introductorio al análisis estadístico bayesiano. Aunque todos los temas se tratan con gran detalle, se pone especial énfasis en el estudio de la contrastación de hipótesis, procedimiento objetivable para seleccionar alternativas, incluyendo las aplicaciones más habituales en las técnicas estadísticas, tanto en el caso paramétrico como en el no paramétrico.

VA/Ingeniería en Electromecánica

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